衍射時(shí)差法超聲檢測(cè)技術(shù)(Time of Flight Diffraction Technique，簡稱TOM)是依靠超聲波與缺陷尖端或端部相互作用后發(fā)出的衍射波來檢測(cè)缺陷，并對(duì)缺陷進(jìn)行定位、定量的一種無損檢測(cè)技術(shù)。
TOM檢測(cè)技術(shù)需要專用的掃查裝置，掃查裝置帶位置傳感器，在實(shí)施掃查的過程中實(shí)時(shí)成像(A掃描、D或B掃描)，檢測(cè)的數(shù)據(jù)可保存，通過專用的數(shù)據(jù)分析處理軟件可進(jìn)行質(zhì)量評(píng)判，TOM檢測(cè)技術(shù)采用全波射頻RF信號(hào)記錄和TOFD圖像顯示，故對(duì)缺陷評(píng)價(jià)時(shí)可利用的信息缺大，檢測(cè)結(jié)果更加直觀，結(jié)果分析更加科學(xué)。
TOM檢測(cè)技術(shù)在檢測(cè)精度、可靠性、降低成本、提高效率、環(huán)境保護(hù)等各個(gè)方面表現(xiàn)均十分優(yōu)異。與傳統(tǒng)的超聲檢測(cè)方法相比，具有檢出能力強(qiáng)、精度高、檢測(cè)方便、成像直觀等優(yōu)點(diǎn),有常規(guī)波幅法檢測(cè)不具備的長處。TOM可根據(jù)被檢材料的幾何尺寸充分利用直通波的相位和缺陷端部的時(shí)間差信息，來對(duì)缺陷進(jìn)行測(cè)深定高。
